什么是涂層測(cè)厚儀?怎么使用?這是一種專業(yè)的無(wú)損檢測(cè)金屬基體涂層的設(shè)備。常用的涂層測(cè)厚儀分為集成測(cè)厚儀和分體測(cè)厚儀。

涂層測(cè)厚儀是什么?

　　涂層厚度計(jì)又稱涂層厚度計(jì)，涂層厚度計(jì)或涂層厚度計(jì)。不同類型的涂層厚度計(jì)可以通過(guò)磁性法、渦流法、超聲波法、電解法和放射法來(lái)檢測(cè)金屬基底表面涂層的厚度。不同的厚度測(cè)量?jī)x在原理上使用不同的方法，測(cè)量的精度也有所不同。常用的涂層厚度測(cè)量?jī)x通常支持磁性厚度測(cè)量法和渦流厚度測(cè)量法。相對(duì)而言，磁性法的測(cè)量精度較高，但該方法也有一定的限制。

　　磁性方法可用于檢測(cè)各種非磁性涂層厚度，如鐵板上的涂料層、噴粉層、瓷涂層、鍍鉻涂層、鍍銅涂層、鍍鋅涂層等各種磁性基體(如鋼材)。

　　渦流法能檢測(cè)噴涂在非磁性金屬基體上的所有絕緣涂層厚度(如鋁、銅、黃銅、不銹鋼等)。

　　因此，根據(jù)探針的形式，可將常用涂層測(cè)厚儀分為鐵基涂層測(cè)厚儀、鋁基涂層測(cè)厚儀、兩用涂層測(cè)厚儀、一體式和分體式。

通常采用測(cè)厚儀無(wú)損檢測(cè)的原理方法有哪些？

　　磁測(cè)量法：

　　適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。該方法測(cè)量精度高。

　　渦流測(cè)量法：

　　用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。該方法比磁測(cè)厚精度低。

　　超聲測(cè)量法：

　　適用于各種板材和各種加工件的精確測(cè)量，也可以監(jiān)測(cè)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器在使用過(guò)程中腐蝕后的薄度。

　　磁測(cè)原理測(cè)厚儀又可分為磁吸原理測(cè)厚儀和磁感應(yīng)原理測(cè)厚儀兩種，渦流測(cè)原理測(cè)厚儀只有一種。

　　磁性吸力原理厚度計(jì)是利用永久磁鐵測(cè)量頭與導(dǎo)磁鋼之間的吸力大小和兩者之間的距離成一定比例的關(guān)系來(lái)測(cè)量涂層的厚度。這個(gè)距離是涂層的厚度，所以只要涂層和基板之間的導(dǎo)磁率差足夠大，就可以進(jìn)行測(cè)量。

　　磁感應(yīng)原理測(cè)厚儀是利用測(cè)量頭通過(guò)非鐵磁性涂層而流入鐵基材的磁通尺寸來(lái)測(cè)量涂層的厚度。涂層越厚，磁通量越小。當(dāng)測(cè)量頭纏繞在軟鐵核心上的線圈放在測(cè)量對(duì)象上時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)輸出測(cè)試電流。磁通的大小影響感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小。儀器將信號(hào)放大，然后表明涂層厚度。

　　渦流測(cè)厚儀是一種在金屬材料中形成的渦流，它使用高頻交流在作為測(cè)量頭的線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)。渦流隨著與金屬體的距離而增加，會(huì)影響探頭線圈的磁通。這種反饋是探頭與基體金屬間距的值。

　　渦流法測(cè)量頭用于測(cè)量非鐵磁性金屬基體上的覆蓋厚度，因此我們通常稱其為非磁性測(cè)量頭。與磁測(cè)量原理相比，它們的電氣原理基本相同。主要區(qū)別在于，測(cè)試頭不同，測(cè)試電流的頻率不同，信號(hào)大小和標(biāo)度關(guān)系不同。在過(guò)去兩年的厚度測(cè)量?jī)x器中，不同的控制程序通過(guò)自動(dòng)識(shí)別不同的測(cè)量頭，分別輸出不同的測(cè)試電流和改變標(biāo)度轉(zhuǎn)換軟件，通過(guò)不斷改進(jìn)測(cè)頭結(jié)構(gòu)，再加上微計(jì)算機(jī)技術(shù)，最終使兩種不同類型的測(cè)頭連接到同一厚度測(cè)量?jī)x器上?；谕瑯拥南敕ǎ梢云ヅ?0個(gè)測(cè)量頭的厚度測(cè)量?jī)x器也應(yīng)運(yùn)而生。

　　根據(jù)超聲波脈沖反射原理測(cè)量超聲波測(cè)厚儀的厚度。當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)對(duì)象到達(dá)材料分割界面時(shí)，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間，確定被測(cè)對(duì)象材料的厚度。

　　雖然在校準(zhǔn)中對(duì)測(cè)量點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)材料的選擇有許多不同，但在操作中有一些相同的注意事項(xiàng)。例如，每種測(cè)厚儀對(duì)基體的表面曲率和最小厚度有一個(gè)下限，在實(shí)際校準(zhǔn)中應(yīng)選擇合理尺寸的基體進(jìn)行操作;測(cè)量過(guò)程中，測(cè)頭的方向和壓力也會(huì)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生影響。為了保持測(cè)頭與基體之間的垂直性，應(yīng)盡可能保持恒定和較小的壓力;此外，還應(yīng)注意外部磁場(chǎng)和基體剩余磁的干擾。